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Scanning Probe Microscopy, Fachbücher von Ernst Meyer, Roland Bennewitz, Hans J Hug
Das Buch "Scanning Probe Microscopy" bietet eine umfassende Einführung in die Grundlagen und Anwendungen der Rastersondenmikroskopie. Verfasst von drei führenden Experten auf diesem Gebiet, behandelt es alle wesentlichen Aspekte dieser Technik, einschliesslich experimenteller Designs und Verfahren zur Optimierung der Leistung. Die Autoren erläutern die physikalischen Prinzipien, die hinter den verschiedenen Bildgebungsverfahren stehen, und gehen auf Fragen der Instrumentierung sowie auf häufige Artefakte ein. Die zweite Auflage enthält aktuelle wissenschaftliche Updates und behandelt neue Durchbrüche in Techniken wie submolekularer Bildgebung und hochgeschwindigkeitsbiologischer Bildgebung. Das Buch richtet sich an Studierende und Forschende und dient sowohl als Lehrbuch als auch als praktischer Leitfaden für Laboranwendungen.
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Applied Scanning Probe Methods V, Fachbücher von Satoshi Kawata, Bharat Bhushan, Harald Fuchs
"Applied Scanning Probe Methods V" ist ein Fachbuch, das sich mit den neuesten Entwicklungen im Bereich der Rastersondenmikroskopie beschäftigt. Es bietet eine umfassende Übersicht über technische Fortschritte und industrielle Anwendungen, die in den letzten Jahren in diesem dynamischen Forschungsfeld erzielt wurden. Die Herausgeber haben die Inhalte sorgfältig zusammengestellt, um sowohl praktische Anwendungen als auch grundlegende Forschungsergebnisse zu präsentieren. Dieses Buch ist Teil einer erweiterten Reihe, die auf den vorherigen Bänden aufbaut und neue Themen behandelt, die in den ersten vier Bänden nicht abgedeckt wurden. Die behandelten Themen in diesem Band umfassen innovative Sonden- und Sensortechnologien, die für die Weiterentwicklung der Rastersondenmikroskopie von Bedeutung sind. Die Leser finden hier wertvolle Informationen, die sowohl für Wissenschaftler als auch für Fachleute in der Industrie von Interesse sind.
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Applied Scanning Probe Methods IX, Fachbücher von Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Masahiko Tomitori"Applied Scanning Probe Methods IX" ist ein Fachbuch, das sich mit der Charakterisierung von Materialoberflächen und molekularen Systemen befasst. Es ist Teil einer renommierten Buchreihe, die sich mit den Fortschritten in der Rastersondenmikroskopie und deren Anwendungen beschäftigt. In diesem Band werden verschiedene Techniken zur strukturellen und lokalen mechanischen Charakterisierung behandelt, wobei ein breites Spektrum an STM- und AFM-Untersuchungen abgedeckt wird. Die Autoren, darunter renommierte Experten wie Bharat Bhushan und Harald Fuchs, präsentieren aktuelle Forschungsergebnisse und innovative Ansätze in der Materialwissenschaft. Die Kapitel sind systematisch gegliedert und bieten einen tiefen Einblick in die neuesten Entwicklungen und Anwendungen in der Rastersondenmikroskopie. Dieses Buch richtet sich an Fachleute und Studierende, die sich mit den neuesten Techniken und deren praktischen Anwendungen in der Forschung und Industrie auseinandersetzen möchten.117,69 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Scanning Tunneling Microscopy and Related Methods, Fachbücher von H. Rohrer, N. García, R. J. BehmDas Fachbuch "Scanning Tunneling Microscopy and Related Methods" bietet eine umfassende Einführung in die Rastertunnelmikroskopie und verwandte Methoden. Verfasst von den renommierten Autoren H. Rohrer und N. García, richtet sich das Buch an Studierende und Fachleute im Bereich der Physik sowie der Mathematik und Naturwissenschaften. Mit 526 Seiten behandelt es sowohl theoretische als auch praktische Aspekte der Rastertunnelmikroskopie, die eine entscheidende Rolle in der modernen Materialwissenschaft spielt. Die erste Auflage, veröffentlicht im Jahr 2010, ist in englischer Sprache verfasst und bietet eine detaillierte Analyse der Techniken und Anwendungen dieser innovativen Mikroskopiemethode. Die kompakte Grösse von 16 cm in der Breite und 24 cm in der Höhe macht das Buch zu einem handlichen Begleiter für Studierende und Forscher.213,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Scanning Capacitance Microscopy, Taschenbuch von Wolfgang Brezna, Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften, 978-3-8381-0267-2Scanning Capacitance Microscopy, Taschenbuch Von Wolfgang Brezna, Südwestdeutscher Verlag Für Hochschulschriften, 978-3-8381-0267-2, Seitenanzahl: 15669,90 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Atom Probe Microscopy, Fachbücher von Baptiste Gault, Michael P. Moody, Julie M. Cairney, Simon P. RingerDas Buch "Atom Probe Microscopy" bietet eine umfassende Einführung in die Atomsondenmikroskopie, eine Technik, die es ermöglicht, die Struktur und Chemie von Materialien in drei Dimensionen mit nahezu atomarer Auflösung zu charakterisieren. In den letzten zehn Jahren hat sich das Gebiet durch bedeutende instrumentelle Fortschritte, wie die Entwicklung von Weitwinkel-Detektoren und pulslaserunterstützter Verdampfung, erheblich weiterentwickelt. Diese Fortschritte haben die Möglichkeiten der Technik erheblich erweitert und sie zu einem anerkannten Standardverfahren in der Materialcharakterisierung gemacht. Das Buch behandelt alle Aspekte der Atomsondenmikroskopie, einschliesslich der Feldionenmikroskopie und der Felddesorptionsmikroskopie, mit einem besonderen Fokus auf die Atomsondentomographie. Es richtet sich an Forschende aller Erfahrungsstufen und bietet sowohl Anfängern als auch erfahrenen Anwendern wertvolle Informationen und Referenzen.299,59 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
Novel sensors for scanning force microscopy based on carbon nanotube mechanical resonators, Taschenbuch von Christopher Friedrich Reiche, TUDpress,
Novel Sensors For Scanning Force Microscopy Based On Carbon Nanotube Mechanical Resonators, Taschenbuch Von Christopher Friedrich Reiche, Tudpress, 978-3-95908-068-2, Seitenanzahl: 176
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PCE SPM 1 - Solarmessgerät PCE-SPM 1
Solarmessgerät inkl. Software PCE-SPM 1 Arbeitsschutzmessgerät mit integriertem Sensor, ermittelt die Energieausbeute an Solaranlagen dient ebenfalls zur Findung optimaler Solar-Standorte für Neuanlagen Einstrahlung P tot ermöglicht Langzeitmessung über den internen Messwertspeicher (32.000) Übertragungs- und Auswertesoftware im Lieferumfang enthalten (in englisch) Min-, Max- und Data-Hold Funktion Versorgung mittels 4 Li-Ionen-Batterien (Lebensdauer ca. 16 Tage bei Dauereinsatz) Produktvorteile: Das Arbeitsschutzmessgerät für solare Energie ist das optimale Hand - Prüfgerät für Solaringenieure, Architekten und Hobby-Solarteure. Mit diesem Arbeitsschutzmessgerät ermitteln Sie die Solar-Leistung. Damit wird eine Aussage über die Zusammenstellung und Auslegung einer Photovoltaikanlage möglich. Die Messung der Lichtintensität erfolgt über eine monokristalline Silizium-Solarzelle. Der in das solare Arbeitsschutzmessgerät integrierte Prozessor sorgt für eine automatische Korrektur zum Erhalt der Grundgenauigkeit nach der Kalibrierung jedes Gerätes im Solar-Simulator. Die wichtigste Kenngröße P tot (in W/m2) ist direkt am Display ablesbar. Die im internen Speicher (32.000 Messwerte) enthaltenen Daten können mit Hilfe der Software an die serielle Schnittstelle eines PC übertragen werden. Dieses Arbeitsschutzmessgerät wurde auch für den Außeneinsatz konzipiert und besitzt ein witterungsbeständiges Kunststoffgehäuse. Seine kompakten Abmessungen erlauben eine komfortable Einhandbedienung. 1. Solar - Direktmessung vor Ort Mit dem Arbeitsschutzmessgerät kann eine direkte Messung der Energie an einer definierten Position vorgenommen werden. Diese Messwerte können u. a. zur Überprüfung des Wirkungsgrades von PV-Modulen oder Solar Thermie-Anlagen herangezogen werden. 2. Simulation von Temperatur, Leistung, Spannung und Strom von PV- Modulen Achtung: nur in Kombination mit dem von uns angebotenen Multimeter möglich. 3. Langzeitmessungen Für Messungen über längere Zeiträume ist das Arbeitsschutzmessgerät intern mit einem Datenlogger ausgestattet. Sonnenstrahlung Das Arbeitsschutzmessgerät erkennt die volle solare Strahlung, d.h. sowohl die direkte Strahlung, als auch die difusse solare Strahlung der Atmosphäre. Der größte Energieanteil der Sonnenstrahlung, der auf die Oberfläche der Erde reflektiert, befindet sich in der infraroten sichtbaren Streife des Spektrums, da die Ultraviolettstrahlung durch die Atmosphäre absorbiert wird. Die Sonnenstrahlung ist unterschiedlich im Laufe des Jahres, da der Winkel der einfallenden Lichtstrahlen im Sommer größer als im Winter ist und die Strahlen fallen im Sommer senkrechter ein. Technische Daten: Technische Spezifikation Messbereich 0 ... 2000 W/m2 Auflösung 1 W/m2 Genauigkeit +-10 W/m2 oder +-5 % (es gilt der höhere Wert) Spektralbereich 400 ... 1100 nm Datenspeicher 32.000 Messwerte Messrate einstellbar Datenübertragung serielle RS232-Schnittstelle Anzeige LCD Umgebungstemperaturbereich 0 ... +50 °C Max. Feuchte Betriebsversorgung 4 x 1,5 V AAA Li-Ionen-Batterie (für ca. 16 Tage Dauereinsatz) Abmessung 111 x 64 x 34 mm Gewicht 165 g Lieferumfang: 1 x Arbeitsschutzmessgerät PCE-SPM 1 1 x interner Sensor 1 x interner Messwertspeicher 1 x RS-232-PC-Kabel 1 x Software 4 x Batterie 1 x Gerätetasche 1 x Anleitung
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Scanning Probe Microscopy, Fachbücher von Ernst Meyer, Roland Bennewitz, Hans J HugDas Buch "Scanning Probe Microscopy" bietet eine umfassende Einführung in die Grundlagen und Anwendungen der Rastersondenmikroskopie. Verfasst von drei führenden Experten auf diesem Gebiet, behandelt es alle wesentlichen Aspekte dieser Technik, einschliesslich experimenteller Designs und Verfahren zur Optimierung der Leistung. Die Autoren erläutern die physikalischen Prinzipien, die hinter den verschiedenen Bildgebungsverfahren stehen, und gehen auf Fragen der Instrumentierung sowie auf häufige Artefakte ein. Die zweite Auflage enthält aktuelle wissenschaftliche Updates und behandelt neue Durchbrüche in Techniken wie submolekularer Bildgebung und hochgeschwindigkeitsbiologischer Bildgebung. Das Buch richtet sich an Studierende und Forschende und dient sowohl als Lehrbuch als auch als praktischer Leitfaden für Laboranwendungen.60,98 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Applied Scanning Probe Methods V, Fachbücher von Satoshi Kawata, Bharat Bhushan, Harald Fuchs"Applied Scanning Probe Methods V" ist ein Fachbuch, das sich mit den neuesten Entwicklungen im Bereich der Rastersondenmikroskopie beschäftigt. Es bietet eine umfassende Übersicht über technische Fortschritte und industrielle Anwendungen, die in den letzten Jahren in diesem dynamischen Forschungsfeld erzielt wurden. Die Herausgeber haben die Inhalte sorgfältig zusammengestellt, um sowohl praktische Anwendungen als auch grundlegende Forschungsergebnisse zu präsentieren. Dieses Buch ist Teil einer erweiterten Reihe, die auf den vorherigen Bänden aufbaut und neue Themen behandelt, die in den ersten vier Bänden nicht abgedeckt wurden. Die behandelten Themen in diesem Band umfassen innovative Sonden- und Sensortechnologien, die für die Weiterentwicklung der Rastersondenmikroskopie von Bedeutung sind. Die Leser finden hier wertvolle Informationen, die sowohl für Wissenschaftler als auch für Fachleute in der Industrie von Interesse sind.117,69 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Applied Scanning Probe Methods IX, Fachbücher von Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Masahiko Tomitori"Applied Scanning Probe Methods IX" ist ein Fachbuch, das sich mit der Charakterisierung von Materialoberflächen und molekularen Systemen befasst. Es ist Teil einer renommierten Buchreihe, die sich mit den Fortschritten in der Rastersondenmikroskopie und deren Anwendungen beschäftigt. In diesem Band werden verschiedene Techniken zur strukturellen und lokalen mechanischen Charakterisierung behandelt, wobei ein breites Spektrum an STM- und AFM-Untersuchungen abgedeckt wird. Die Autoren, darunter renommierte Experten wie Bharat Bhushan und Harald Fuchs, präsentieren aktuelle Forschungsergebnisse und innovative Ansätze in der Materialwissenschaft. Die Kapitel sind systematisch gegliedert und bieten einen tiefen Einblick in die neuesten Entwicklungen und Anwendungen in der Rastersondenmikroskopie. Dieses Buch richtet sich an Fachleute und Studierende, die sich mit den neuesten Techniken und deren praktischen Anwendungen in der Forschung und Industrie auseinandersetzen möchten.117,69 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Scanning Tunneling Microscopy and Related Methods, Fachbücher von H. Rohrer, N. García, R. J. BehmDas Fachbuch "Scanning Tunneling Microscopy and Related Methods" bietet eine umfassende Einführung in die Rastertunnelmikroskopie und verwandte Methoden. Verfasst von den renommierten Autoren H. Rohrer und N. García, richtet sich das Buch an Studierende und Fachleute im Bereich der Physik sowie der Mathematik und Naturwissenschaften. Mit 526 Seiten behandelt es sowohl theoretische als auch praktische Aspekte der Rastertunnelmikroskopie, die eine entscheidende Rolle in der modernen Materialwissenschaft spielt. Die erste Auflage, veröffentlicht im Jahr 2010, ist in englischer Sprache verfasst und bietet eine detaillierte Analyse der Techniken und Anwendungen dieser innovativen Mikroskopiemethode. Die kompakte Grösse von 16 cm in der Breite und 24 cm in der Höhe macht das Buch zu einem handlichen Begleiter für Studierende und Forscher.213,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Scanning Capacitance Microscopy, Taschenbuch von Wolfgang Brezna, Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften, 978-3-8381-0267-2Scanning Capacitance Microscopy, Taschenbuch Von Wolfgang Brezna, Südwestdeutscher Verlag Für Hochschulschriften, 978-3-8381-0267-2, Seitenanzahl: 15669,90 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Atom Probe Microscopy, Fachbücher von Baptiste Gault, Michael P. Moody, Julie M. Cairney, Simon P. RingerDas Buch "Atom Probe Microscopy" bietet eine umfassende Einführung in die Atomsondenmikroskopie, eine Technik, die es ermöglicht, die Struktur und Chemie von Materialien in drei Dimensionen mit nahezu atomarer Auflösung zu charakterisieren. In den letzten zehn Jahren hat sich das Gebiet durch bedeutende instrumentelle Fortschritte, wie die Entwicklung von Weitwinkel-Detektoren und pulslaserunterstützter Verdampfung, erheblich weiterentwickelt. Diese Fortschritte haben die Möglichkeiten der Technik erheblich erweitert und sie zu einem anerkannten Standardverfahren in der Materialcharakterisierung gemacht. Das Buch behandelt alle Aspekte der Atomsondenmikroskopie, einschliesslich der Feldionenmikroskopie und der Felddesorptionsmikroskopie, mit einem besonderen Fokus auf die Atomsondentomographie. Es richtet sich an Forschende aller Erfahrungsstufen und bietet sowohl Anfängern als auch erfahrenen Anwendern wertvolle Informationen und Referenzen.299,59 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Novel sensors for scanning force microscopy based on carbon nanotube mechanical resonators, Taschenbuch von Christopher Friedrich Reiche, TUDpress,Novel Sensors For Scanning Force Microscopy Based On Carbon Nanotube Mechanical Resonators, Taschenbuch Von Christopher Friedrich Reiche, Tudpress, 978-3-95908-068-2, Seitenanzahl: 17636,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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PCE SPM 1 - Solarmessgerät PCE-SPM 1Solarmessgerät inkl. Software PCE-SPM 1 Arbeitsschutzmessgerät mit integriertem Sensor, ermittelt die Energieausbeute an Solaranlagen dient ebenfalls zur Findung optimaler Solar-Standorte für Neuanlagen Einstrahlung P tot ermöglicht Langzeitmessung über den internen Messwertspeicher (32.000) Übertragungs- und Auswertesoftware im Lieferumfang enthalten (in englisch) Min-, Max- und Data-Hold Funktion Versorgung mittels 4 Li-Ionen-Batterien (Lebensdauer ca. 16 Tage bei Dauereinsatz) Produktvorteile: Das Arbeitsschutzmessgerät für solare Energie ist das optimale Hand - Prüfgerät für Solaringenieure, Architekten und Hobby-Solarteure. Mit diesem Arbeitsschutzmessgerät ermitteln Sie die Solar-Leistung. Damit wird eine Aussage über die Zusammenstellung und Auslegung einer Photovoltaikanlage möglich. Die Messung der Lichtintensität erfolgt über eine monokristalline Silizium-Solarzelle. Der in das solare Arbeitsschutzmessgerät integrierte Prozessor sorgt für eine automatische Korrektur zum Erhalt der Grundgenauigkeit nach der Kalibrierung jedes Gerätes im Solar-Simulator. Die wichtigste Kenngröße P tot (in W/m2) ist direkt am Display ablesbar. Die im internen Speicher (32.000 Messwerte) enthaltenen Daten können mit Hilfe der Software an die serielle Schnittstelle eines PC übertragen werden. Dieses Arbeitsschutzmessgerät wurde auch für den Außeneinsatz konzipiert und besitzt ein witterungsbeständiges Kunststoffgehäuse. Seine kompakten Abmessungen erlauben eine komfortable Einhandbedienung. 1. Solar - Direktmessung vor Ort Mit dem Arbeitsschutzmessgerät kann eine direkte Messung der Energie an einer definierten Position vorgenommen werden. Diese Messwerte können u. a. zur Überprüfung des Wirkungsgrades von PV-Modulen oder Solar Thermie-Anlagen herangezogen werden. 2. Simulation von Temperatur, Leistung, Spannung und Strom von PV- Modulen Achtung: nur in Kombination mit dem von uns angebotenen Multimeter möglich. 3. Langzeitmessungen Für Messungen über längere Zeiträume ist das Arbeitsschutzmessgerät intern mit einem Datenlogger ausgestattet. Sonnenstrahlung Das Arbeitsschutzmessgerät erkennt die volle solare Strahlung, d.h. sowohl die direkte Strahlung, als auch die difusse solare Strahlung der Atmosphäre. Der größte Energieanteil der Sonnenstrahlung, der auf die Oberfläche der Erde reflektiert, befindet sich in der infraroten sichtbaren Streife des Spektrums, da die Ultraviolettstrahlung durch die Atmosphäre absorbiert wird. Die Sonnenstrahlung ist unterschiedlich im Laufe des Jahres, da der Winkel der einfallenden Lichtstrahlen im Sommer größer als im Winter ist und die Strahlen fallen im Sommer senkrechter ein. Technische Daten: Technische Spezifikation Messbereich 0 ... 2000 W/m2 Auflösung 1 W/m2 Genauigkeit +-10 W/m2 oder +-5 % (es gilt der höhere Wert) Spektralbereich 400 ... 1100 nm Datenspeicher 32.000 Messwerte Messrate einstellbar Datenübertragung serielle RS232-Schnittstelle Anzeige LCD Umgebungstemperaturbereich 0 ... +50 °C Max. Feuchte Betriebsversorgung 4 x 1,5 V AAA Li-Ionen-Batterie (für ca. 16 Tage Dauereinsatz) Abmessung 111 x 64 x 34 mm Gewicht 165 g Lieferumfang: 1 x Arbeitsschutzmessgerät PCE-SPM 1 1 x interner Sensor 1 x interner Messwertspeicher 1 x RS-232-PC-Kabel 1 x Software 4 x Batterie 1 x Gerätetasche 1 x Anleitung320,95 €*Versand: 5,95 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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